高頻特性看不懂?設(shè)計驗證好花時間?
在上一篇文章,百佳泰歸納高頻連接器設(shè)計對機(jī)構(gòu)工程師的挑戰(zhàn)及潛在風(fēng)險,高頻的特性在傳統(tǒng)低速連接器設(shè)計時是不用考慮太多,但在高速連接器的設(shè)計上卻是影響質(zhì)量的關(guān)鍵因素。偏偏高頻特性非常的復(fù)雜,而機(jī)構(gòu)工程師對于高頻特性的認(rèn)知又還未累積足夠的經(jīng)驗,因此在設(shè)計及驗證高頻連接器時所花的時間都非常的久,而當(dāng)驗證結(jié)果出現(xiàn)Fail時的分析也無法有效率的找出問題點去修正。
輕松破解!高頻特性之潛在風(fēng)險一次看
百佳泰擁有完整的環(huán)境設(shè)備及豐富的項目經(jīng)驗,分析及歸納出當(dāng)高頻特性不良時,可能引起的潛在風(fēng)險:
1. Insertion Loss
Insertion Loss過大時會導(dǎo)致訊號衰減加劇,進(jìn)而影響傳輸距離及帶寬。
2. Return Loss
Return Loss過大時會導(dǎo)致訊號的反射及干擾,進(jìn)而影響訊號的質(zhì)量。
上述的潛在風(fēng)險可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)降頻傳輸、誤碼率過高,進(jìn)而使整臺服務(wù)器效能降低。
當(dāng)Insertion Loss 或是Return Loss驗證總是差一點而無法Pass,此時工程師最大的挑戰(zhàn)便是該怎么改善?或許會想去藉由觀察TDR,希望能解開一些疑問。但棘手的是TDR又符合規(guī)范,此時又該怎么去著手修正? 百佳泰累積了豐富的客戶產(chǎn)品項目經(jīng)驗,因應(yīng)上述的風(fēng)險,提出以下例子來說明可以改善的思考方向。
實測實例秀給你看!
圖一為USB 4.0 connector mating的TDR實測實例,依據(jù)USB 4.0的規(guī)范阻抗上下限為85 ? ± 9 40 ps (20% – 80%) rise time。從圖中很明顯的可以看出TDR實測是符合規(guī)范的,而USB 4.0 的IRL測項卻過不了。對于百佳泰的量測工程師,這樣的TDR曲線其實是有空間改善的,因為反射次數(shù)的多寡往往也能決定S參數(shù)的好壞。由此實例可以看出雖然TDR結(jié)果是符合規(guī)范的,但可能由于connector的接觸阻抗過高而有多次的反射,因此,解決多次反射的問題或許就能同時解決IRL測不過的困擾。
(圖一)
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百佳泰熟悉各種產(chǎn)業(yè)高頻連接器的規(guī)格、擁有豐富的客戶產(chǎn)品項目經(jīng)驗,同時也是眾多協(xié)會的認(rèn)證實驗室,具有下面的幾項優(yōu)勢:
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百佳泰不僅擁有超過30年以上的專業(yè)實績、專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊以及一應(yīng)俱全的測試環(huán)境與儀器設(shè)備,能提供快速且正確的量測結(jié)果。
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