AI Solution, Success Stories, Test Fixture Design

百佳泰高效治具解決方案，助企業(yè)全面解決PCIe測試各項挑戰(zhàn)

百佳泰 Allion Labs > 百佳泰高效治具解決方案，助企業(yè)全面解決PCIe測試各項挑戰(zhàn)

PCIe技術(shù)的演進與挑戰(zhàn)

PCIe (Peripheral Component Interconnect Express) 技術(shù)作為當(dāng)今計算機系統(tǒng)的關(guān)鍵互連技術(shù)，其高頻、高速的特性對系統(tǒng)性能和可靠性提出了極高的要求。隨著PCIe 5.0、6.0和7.0等新一代標(biāo)準(zhǔn)的推出，數(shù)據(jù)傳輸速率不斷攀升，對電氣訊號的完整性、穩(wěn)定性提出了更嚴苛的挑戰(zhàn)。

高頻高速：更高的數(shù)據(jù)傳輸速率意味著訊號頻率更高，對訊號完整性、時序要求也更高；PCIe 5.0、PCIe 6.0每信道的數(shù)據(jù)傳輸速率分別為32 Gbps和64 Gbps，而PCIe 7.0每信道的數(shù)據(jù)傳輸速率高達128 Gbps。
多樣性應(yīng)用：PCIe不僅應(yīng)用于傳統(tǒng)的計算機系統(tǒng)，更拓展到消費電子、汽車、工業(yè)等多個領(lǐng)域，對產(chǎn)品的可靠性、穩(wěn)定性要求各不相同。
訊號復(fù)雜度：高速傳輸、多種訊號類型以及復(fù)雜的編碼方式，使得PCIe訊號的量測變得更加復(fù)雜。

一定要進行PCIe電氣訊號量測的主要原因

確保訊號完整性：PCIe訊號在高速傳輸過程中容易受噪聲、串?dāng)_等因素的影響，導(dǎo)致訊號完整性下降，甚至產(chǎn)生錯誤。
及早發(fā)現(xiàn)潛在問題：精準(zhǔn)的量測可以幫助識別和解決潛在問題，避免系統(tǒng)在實際應(yīng)用中出現(xiàn)故障或性能問題。

PCIe測試治具的重要性

為了應(yīng)對PCIe技術(shù)發(fā)展帶來的挑戰(zhàn)，PCIe測試治具扮演了至關(guān)重要的角色。測試治具作為一種協(xié)助PCIe產(chǎn)品測試的工具，能夠提供精準(zhǔn)、可靠的量測環(huán)境，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

提供標(biāo)準(zhǔn)化測試環(huán)境：測試治具根據(jù)PCIe標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范設(shè)計，能夠提供符合標(biāo)準(zhǔn)要求的測試環(huán)境，確保測試結(jié)果的可比性。
提高測試精度：測試治具搭配高精度量測儀器，能夠精確捕獲PCIe訊號，提高測試精度。

PCIe測試治具與電氣訊號量測是確保PCIe系統(tǒng)性能與可靠性的關(guān)鍵。透過精準(zhǔn)的量測，可以及早發(fā)現(xiàn)并解決潛在的問題，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

客戶的問題與難處

解析客戶痛點— 多樣化PCIe Form Factor測試困境

客戶是一家橫跨消費性PC和服務(wù)器領(lǐng)域的科技巨擘。為確保產(chǎn)品的卓越性能和可靠性，他們計劃在內(nèi)部建置高頻的PCIe測試環(huán)境。然而，隨著PCIe技術(shù)的快速發(fā)展，以及客戶產(chǎn)品線的多元化，他們在產(chǎn)品導(dǎo)入PCIe 5.0規(guī)格后的測試方面遭遇了前所未有的挑戰(zhàn)。

找出問題點：

Form Factor限制：PCIe協(xié)會在PCIe 5.0上現(xiàn)行的CEM標(biāo)準(zhǔn)測試治具無法滿足客戶多樣化的PCIe form factor需求，如M2、U.2/U.3、EDSFF E1/E3、OCP NIC3.0等。這些form factor缺乏專用測試治具，導(dǎo)致測試工作受阻。
開發(fā)自制治具造成的測試延遲：由于缺乏合適的測試治具，客戶不得不評估自行開發(fā)治具，但這會耗費大量時間和人力，嚴重影響產(chǎn)品的上市時程。
測試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確：自行開發(fā)的治具可能導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確，無法真實反映產(chǎn)品的性能，增加產(chǎn)品上市后的風(fēng)險。
成本增加：自行開發(fā)治具，不僅消耗研發(fā)資源，更增加了成本的支出。

具體需求分析：

客戶迫切需要一套能夠滿足以下需求的PCIe測試解決方案：

全面的Form Factor支持：需涵蓋M2、U.2/U.3、EDSFF E1/E3、OCP NIC3.0等多種PCIe form factor，提供一站式的測試治具解決方案。
確保產(chǎn)品質(zhì)量：需要透過合適的測試治具，準(zhǔn)確檢測各種form factor下的產(chǎn)品訊號質(zhì)量，確保測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，保證產(chǎn)品在市場中的競爭力。
降低成本：避免需要自行開發(fā)的成本，減輕成本負擔(dān)。

未能有效解決問題，您的產(chǎn)品將面臨三大影響：

產(chǎn)品上市延遲：無法正確量測將直接影響產(chǎn)品上市時程，導(dǎo)致市場競爭力下降。
產(chǎn)品質(zhì)量問題：不準(zhǔn)確的測試數(shù)據(jù)可能導(dǎo)致產(chǎn)品在市場上出現(xiàn)性能問題或可靠性問題，損害品牌形象。
開發(fā)成本增加：自行開發(fā)治具將增加研發(fā)成本。

如果不能有效解決這些問題，客戶將面臨測試進度滯后、產(chǎn)品質(zhì)量無法保證、以及市場競爭力下降等風(fēng)險。因此，對于支持多種form factor的PCIe測試治具的迫切需求是他們最大的挑戰(zhàn)。

百佳泰PCIe測試治具解決方案 協(xié)助客戶解決各種問題

多方位的Form Factor支持，為客戶量身打造的完美解答

針對客戶在PCIe測試中遇到的挑戰(zhàn)，百佳泰是業(yè)界率先推出涵蓋所有PCIe form factor的測試治具的企業(yè)。我們提供包括M2、U.2/U.3、EDSFF E1/E3、OCP NIC3.0等多種form factor的PCIe測試治具解決方案，旨在滿足客戶的全面測試需求。這些治具經(jīng)過精心設(shè)計，能夠即刻投入使用，無需客戶自行開發(fā)，確保測試過程中不會受到設(shè)備限制，全面覆蓋其產(chǎn)品測試需求?？蛻粼趯?dǎo)入我們的治具后，成功解決了他們面臨的測試挑戰(zhàn)。

百佳泰專屬測試治具，給您質(zhì)量信賴的保證。

高質(zhì)量服務(wù)為您創(chuàng)造價值?Time to Market with Quality！

Faster！Easier！Better！

憑借百佳泰深耕產(chǎn)業(yè)多年的經(jīng)驗，我們專屬開發(fā)的PCIe測試治具解決方案，能為客戶帶來三大核心優(yōu)勢：

Faster：加速測試流程，縮短上市時間

全面覆蓋各種form factor：
- 全面支持M2、U.2/U.3、EDSFF E1/E3、OCP NIC3.0等不同form factor，滿足客戶各種設(shè)計驗證需求。
實時銷售與交付：
- 經(jīng)過嚴格驗證的測試治具可立即交付使用，無需等待開發(fā)時間。
提高測試效率：
- 使用百佳泰提供的專用測試治具，客戶除了能夠提高測試效率，更能夠確保各種form factor的PCIe接口都能得到準(zhǔn)確的測試。
縮短產(chǎn)品上市時間：
- 避免自行開發(fā)測試治具造成的延遲，快速啟動測試流程。

Easier：優(yōu)化測試，降低成本

減少開發(fā)與部署成本：
- 客戶無需投入資源自行開發(fā)設(shè)計測試治具，這大大降低了開發(fā)和部署成本。我們提供現(xiàn)成治具即刻解決客戶的測試需求，避免因自行開發(fā)而帶來的高成本和技術(shù)風(fēng)險。
降低技術(shù)門坎：
- 百佳泰PCIe治具設(shè)計精良，采用兩倍線校正技術(shù)進行開發(fā)，客戶無須同時購買Compliance Load Board (CLB)跟Compliance Base Board (CBB)治具，即可完成校正。
多方位技術(shù)支持：
- 專業(yè)團隊提供完善的技術(shù)支持和服務(wù)，解決您所有疑問。

Better：業(yè)界認可治具，提升測試質(zhì)量

高精度設(shè)計：
- 治具經(jīng)過精確設(shè)計，強化SMPM連接器結(jié)構(gòu)，以及具彈性的線纜配件，可支持至40GHz，確保測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和一致性。
行業(yè)標(biāo)桿的認可：
- 我們的治具已經(jīng)被多家大品牌、制造商和芯片供貨商采用，用于他們的內(nèi)部測試。這些認可證明了我們治具的可靠性和專業(yè)性。
多方位PCIe測試支持：
- 滿足各種PCIe form factor的專業(yè)測試需求，無遺漏之憂。
- 百佳泰同時開發(fā)了專用于校準(zhǔn)和測量主機/系統(tǒng)的CLB治具，以及專門用于校準(zhǔn)和測量Add-in Card (AIC)的CBB治具，提供了對各類產(chǎn)品測試需求的全面支持。