前面的Server系列文章提過Allion PCIe U.2/U.3 Test Fixture的治具介紹,這篇文章我們要聚焦的則是EDSFF (Enterprise and Data Center SSD Form Factor)測試治具。
EDSFF form factor是專門為企業(yè)和數(shù)據(jù)中心所定義的儲存規(guī)格,除了尺寸更符合Rack上的使用,加上它可以使用SFF-TA-1002所定義的連接器(1C/2C/4C/4C+) 來因應(yīng)傳輸速度的需求而有不同的選擇,因此在服務(wù)器產(chǎn)業(yè)已漸漸成為主流。
依照SNIA REF-TA-1012 的 Pin assignment,EDSFF 2C治具的設(shè)計是以兼容于TA-1009、OCP NIC、GEN-Z、PECFF、SNIA Native NVME of Drive等為使用目標,因此百佳泰在開發(fā)此治具時就選擇以EDSFF 2C為最終設(shè)計。
EDSFF百佳泰特制測試治具細部說明:
A. 治具外觀介紹:
由于EDSFF 2C支持到PCIe x4,因此我們采用一貫以來的設(shè)計概念,并整合原本繁多的線材,設(shè)計線材模塊化,以減少cable的數(shù)量,達到容易使用的目的。
?E1 CLB5.0-L0123 (Model Name: APT21099):
正面有PCIe Tx0~Tx3 及 REFCLK 0 的Connector
背面是PCIe Rx0~Rx3 及 REFCLK1 的Connector
?組裝示意圖:
B. 2倍校正線說明:
百佳泰也設(shè)計了2倍校正線,讓使用者能利用2x Calibration的方式來消除治具本身所產(chǎn)生的效應(yīng),也可以用此治具產(chǎn)生S參數(shù),再放進量測儀器做de-embedded的運算。
基于百佳泰對于驗證測試的Domain Knowhow 和數(shù)十年的測試經(jīng)驗,我們深深的了解到測試時候?qū)τ谥尉摺x器、設(shè)備以及操作上的繁瑣。有些時候,原始治具,并不會從測試的操作面和方便性作為考慮,于是在測試的當下,往往令測試工程師苦不堪言。我們從測試的角度出發(fā),進階改良了原有測試治具的不足。
治具強化特點解析:
A. 連接器結(jié)構(gòu)強化: 改良原始連接器耐受度不良,使用上易造成損壞的疑慮。使用高頻設(shè)計專用連接器帶寬超過40GHz。
B.模塊化的連接器線材:
您不需要另外購置新cable,百佳泰模塊化整合連接線材,可以直接連接相關(guān)測試裝置,不需要額外的線材,即可大大減少測試時的多重線纜的拔取和連接,同時也具備不同長度和終端連接器滿足大家不同的需求。
使用百佳泰開發(fā)的治具,讓你擁有更多的彈性和方便性。
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