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PCIe技術(shù)的演進(jìn)與挑戰(zhàn)

PCIe (Peripheral Component Interconnect Express) 技術(shù)作為當(dāng)今計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的關(guān)鍵互連技術(shù),其高頻、高速的特性對(duì)系統(tǒng)性能和可靠性提出了極高的要求。隨著PCIe 5.0、6.0和7.0等新一代標(biāo)準(zhǔn)的推出,數(shù)據(jù)傳輸速率不斷攀升,對(duì)電氣訊號(hào)的完整性、穩(wěn)定性提出了更嚴(yán)苛的挑戰(zhàn)。

  • 高頻高速:更高的數(shù)據(jù)傳輸速率意味著訊號(hào)頻率更高,對(duì)訊號(hào)完整性、時(shí)序要求也更高;PCIe 5.0、PCIe 6.0每信道的數(shù)據(jù)傳輸速率分別為32 Gbps和64 Gbps,而PCIe 7.0每信道的數(shù)據(jù)傳輸速率高達(dá)128 Gbps。
  • 多樣性應(yīng)用:PCIe不僅應(yīng)用于傳統(tǒng)的計(jì)算機(jī)系統(tǒng),更拓展到消費(fèi)電子、汽車(chē)、工業(yè)等多個(gè)領(lǐng)域,對(duì)產(chǎn)品的可靠性、穩(wěn)定性要求各不相同。
  • 訊號(hào)復(fù)雜度:高速傳輸、多種訊號(hào)類(lèi)型以及復(fù)雜的編碼方式,使得PCIe訊號(hào)的量測(cè)變得更加復(fù)雜。

一定要進(jìn)行PCIe電氣訊號(hào)量測(cè)的主要原因

  • 確保訊號(hào)完整性:PCIe訊號(hào)在高速傳輸過(guò)程中容易受噪聲、串?dāng)_等因素的影響,導(dǎo)致訊號(hào)完整性下降,甚至產(chǎn)生錯(cuò)誤。
  • 及早發(fā)現(xiàn)潛在問(wèn)題:精準(zhǔn)的量測(cè)可以幫助識(shí)別和解決潛在問(wèn)題,避免系統(tǒng)在實(shí)際應(yīng)用中出現(xiàn)故障或性能問(wèn)題。

PCIe測(cè)試治具的重要性

為了應(yīng)對(duì)PCIe技術(shù)發(fā)展帶來(lái)的挑戰(zhàn),PCIe測(cè)試治具扮演了至關(guān)重要的角色。測(cè)試治具作為一種協(xié)助PCIe產(chǎn)品測(cè)試的工具,能夠提供精準(zhǔn)、可靠的量測(cè)環(huán)境,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

  • 提供標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試環(huán)境:測(cè)試治具根據(jù)PCIe標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范設(shè)計(jì),能夠提供符合標(biāo)準(zhǔn)要求的測(cè)試環(huán)境,確保測(cè)試結(jié)果的可比性。
  • 提高測(cè)試精度:測(cè)試治具搭配高精度量測(cè)儀器,能夠精確捕獲PCIe訊號(hào),提高測(cè)試精度。

PCIe測(cè)試治具與電氣訊號(hào)量測(cè)是確保PCIe系統(tǒng)性能與可靠性的關(guān)鍵。透過(guò)精準(zhǔn)的量測(cè),可以及早發(fā)現(xiàn)并解決潛在的問(wèn)題,提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

客戶(hù)的問(wèn)題與難處

解析客戶(hù)痛點(diǎn)— 多樣化PCIe Form Factor測(cè)試?yán)Ь?/strong>

客戶(hù)是一家橫跨消費(fèi)性PC和服務(wù)器領(lǐng)域的科技巨擘。為確保產(chǎn)品的卓越性能和可靠性,他們計(jì)劃在內(nèi)部建置高頻的PCIe測(cè)試環(huán)境。然而,隨著PCIe技術(shù)的快速發(fā)展,以及客戶(hù)產(chǎn)品線(xiàn)的多元化,他們?cè)诋a(chǎn)品導(dǎo)入PCIe 5.0規(guī)格后的測(cè)試方面遭遇了前所未有的挑戰(zhàn)。

找出問(wèn)題點(diǎn):

  • Form Factor限制:PCIe協(xié)會(huì)在PCIe 5.0上現(xiàn)行的CEM標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試治具無(wú)法滿(mǎn)足客戶(hù)多樣化的PCIe form factor需求,如M2、U.2/U.3、EDSFF E1/E3、OCP NIC3.0等。這些form factor缺乏專(zhuān)用測(cè)試治具,導(dǎo)致測(cè)試工作受阻。
  • 開(kāi)發(fā)自制治具造成的測(cè)試延遲:由于缺乏合適的測(cè)試治具,客戶(hù)不得不評(píng)估自行開(kāi)發(fā)治具,但這會(huì)耗費(fèi)大量時(shí)間和人力,嚴(yán)重影響產(chǎn)品的上市時(shí)程。
  • 測(cè)試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確:自行開(kāi)發(fā)的治具可能導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確,無(wú)法真實(shí)反映產(chǎn)品的性能,增加產(chǎn)品上市后的風(fēng)險(xiǎn)。
  • 成本增加:自行開(kāi)發(fā)治具,不僅消耗研發(fā)資源,更增加了成本的支出。

具體需求分析:

客戶(hù)迫切需要一套能夠滿(mǎn)足以下需求的PCIe測(cè)試解決方案:

  • 全面的Form Factor支持:需涵蓋M2、U.2/U.3、EDSFF E1/E3、OCP NIC3.0等多種PCIe form factor,提供一站式的測(cè)試治具解決方案。
  • 確保產(chǎn)品質(zhì)量:需要透過(guò)合適的測(cè)試治具,準(zhǔn)確檢測(cè)各種form factor下的產(chǎn)品訊號(hào)質(zhì)量,確保測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性,保證產(chǎn)品在市場(chǎng)中的競(jìng)爭(zhēng)力。
  • 降低成本:避免需要自行開(kāi)發(fā)的成本,減輕成本負(fù)擔(dān)。

未能有效解決問(wèn)題,您的產(chǎn)品將面臨三大影響:

  • 產(chǎn)品上市延遲:無(wú)法正確量測(cè)將直接影響產(chǎn)品上市時(shí)程,導(dǎo)致市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力下降。
  • 產(chǎn)品質(zhì)量問(wèn)題:不準(zhǔn)確的測(cè)試數(shù)據(jù)可能導(dǎo)致產(chǎn)品在市場(chǎng)上出現(xiàn)性能問(wèn)題或可靠性問(wèn)題,損害品牌形象。
  • 開(kāi)發(fā)成本增加:自行開(kāi)發(fā)治具將增加研發(fā)成本。

如果不能有效解決這些問(wèn)題,客戶(hù)將面臨測(cè)試進(jìn)度滯后、產(chǎn)品質(zhì)量無(wú)法保證、以及市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力下降等風(fēng)險(xiǎn)。因此,對(duì)于支持多種form factor的PCIe測(cè)試治具的迫切需求是他們最大的挑戰(zhàn)。

百佳泰PCIe測(cè)試治具解決方案 協(xié)助客戶(hù)解決各種問(wèn)題

多方位的Form Factor支持,為客戶(hù)量身打造的完美解答

針對(duì)客戶(hù)在PCIe測(cè)試中遇到的挑戰(zhàn),百佳泰是業(yè)界率先推出涵蓋所有PCIe form factor的測(cè)試治具的企業(yè)。我們提供包括M2、U.2/U.3、EDSFF E1/E3、OCP NIC3.0等多種form factor的PCIe測(cè)試治具解決方案,旨在滿(mǎn)足客戶(hù)的全面測(cè)試需求。這些治具經(jīng)過(guò)精心設(shè)計(jì),能夠即刻投入使用,無(wú)需客戶(hù)自行開(kāi)發(fā),確保測(cè)試過(guò)程中不會(huì)受到設(shè)備限制,全面覆蓋其產(chǎn)品測(cè)試需求??蛻?hù)在導(dǎo)入我們的治具后,成功解決了他們面臨的測(cè)試挑戰(zhàn)。

百佳泰專(zhuān)屬測(cè)試治具,給您質(zhì)量信賴(lài)的保證。

高質(zhì)量服務(wù)為您創(chuàng)造價(jià)值?Time to Market with Quality!

FasterEasier!Better!

憑借百佳泰深耕產(chǎn)業(yè)多年的經(jīng)驗(yàn),我們專(zhuān)屬開(kāi)發(fā)的PCIe測(cè)試治具解決方案,能為客戶(hù)帶來(lái)三大核心優(yōu)勢(shì):

Faster加速測(cè)試流程,縮短上市時(shí)間

  • 全面覆蓋各種form factor
    • 全面支持M2、U.2/U.3、EDSFF E1/E3、OCP NIC3.0等不同form factor,滿(mǎn)足客戶(hù)各種設(shè)計(jì)驗(yàn)證需求。
  • 實(shí)時(shí)銷(xiāo)售與交付:
    • 經(jīng)過(guò)嚴(yán)格驗(yàn)證的測(cè)試治具可立即交付使用,無(wú)需等待開(kāi)發(fā)時(shí)間。
  • 提高測(cè)試效率:
    • 使用百佳泰提供的專(zhuān)用測(cè)試治具,客戶(hù)除了能夠提高測(cè)試效率,更能夠確保各種form factor的PCIe接口都能得到準(zhǔn)確的測(cè)試。
  • 縮短產(chǎn)品上市時(shí)間:
    • 避免自行開(kāi)發(fā)測(cè)試治具造成的延遲,快速啟動(dòng)測(cè)試流程。

Easier優(yōu)化測(cè)試,降低成本

  • 減少開(kāi)發(fā)與部署成本:
    • 客戶(hù)無(wú)需投入資源自行開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)測(cè)試治具,這大大降低了開(kāi)發(fā)和部署成本。我們提供現(xiàn)成治具即刻解決客戶(hù)的測(cè)試需求,避免因自行開(kāi)發(fā)而帶來(lái)的高成本和技術(shù)風(fēng)險(xiǎn)。
  • 降低技術(shù)門(mén)坎:
    • 百佳泰PCIe治具設(shè)計(jì)精良,采用兩倍線(xiàn)校正技術(shù)進(jìn)行開(kāi)發(fā),客戶(hù)無(wú)須同時(shí)購(gòu)買(mǎi)Compliance Load Board (CLB)跟Compliance Base Board (CBB)治具,即可完成校正。
  • 多方位技術(shù)支持:
    • 專(zhuān)業(yè)團(tuán)隊(duì)提供完善的技術(shù)支持和服務(wù),解決您所有疑問(wèn)。

Better:業(yè)界認(rèn)可治具,提升測(cè)試質(zhì)量

  • 高精度設(shè)計(jì):
    • 治具經(jīng)過(guò)精確設(shè)計(jì),強(qiáng)化SMPM連接器結(jié)構(gòu),以及具彈性的線(xiàn)纜配件,可支持至40GHz,確保測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和一致性。
  • 行業(yè)標(biāo)桿的認(rèn)可:
    • 我們的治具已經(jīng)被多家大品牌、制造商和芯片供貨商采用,用于他們的內(nèi)部測(cè)試。這些認(rèn)可證明了我們治具的可靠性和專(zhuān)業(yè)性。
  • 多方位PCIe測(cè)試支持:
    • 滿(mǎn)足各種PCIe form factor的專(zhuān)業(yè)測(cè)試需求,無(wú)遺漏之憂(yōu)。
    • 百佳泰同時(shí)開(kāi)發(fā)了專(zhuān)用于校準(zhǔn)和測(cè)量主機(jī)/系統(tǒng)的CLB治具,以及專(zhuān)門(mén)用于校準(zhǔn)和測(cè)量Add-in Card (AIC)的CBB治具,提供了對(duì)各類(lèi)產(chǎn)品測(cè)試需求的全面支持。

選擇百佳泰,贏在起跑線(xiàn)!

  • 立即解決測(cè)試需求,無(wú)需等待
  • 大幅降低開(kāi)發(fā)和部署成本
  • 提高測(cè)試效率,確保結(jié)果可靠性
  • 減少測(cè)試風(fēng)險(xiǎn),增強(qiáng)產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力

百佳泰PCIe測(cè)試治具解決方案,助您以更快的速度、更簡(jiǎn)單的方式、更好的效果完成PCIe測(cè)試,搶占市場(chǎng)先機(jī)!

除了PCIe測(cè)試治具方案外,同時(shí)也提供PCIe自動(dòng)化測(cè)試解決方案,如果您對(duì)我們的PCIe自動(dòng)化測(cè)試解決方案有興趣,歡迎隨時(shí)與百佳泰聯(lián)系。

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