前言
相信大家都有替手機(jī)或電子產(chǎn)品充電的經(jīng)驗(yàn),而在進(jìn)行充電的過(guò)程中我們往往都會(huì)遇到手機(jī)或電子產(chǎn)品充電過(guò)熱的狀況,然而這個(gè)發(fā)熱現(xiàn)象有可能來(lái)自于電池或是充電回路的IC;又或者是另一個(gè)比較少人特別留意的組件,那就是充電用的連接器!(以下簡(jiǎn)稱Connector)
Connector溫度過(guò)熱的4大潛在風(fēng)險(xiǎn) ?
一旦connector的溫度過(guò)熱,對(duì)電子產(chǎn)品可能造成的影響主要可分為以下4大風(fēng)險(xiǎn):
Connector溫度過(guò)熱潛在風(fēng)險(xiǎn)1:電氣性能降低
在高溫環(huán)境下,connector的電氣性能可能會(huì)受到導(dǎo)通電阻增加、信號(hào)傳輸損耗增加等各種影響,而這些現(xiàn)象都可能導(dǎo)致connector的功能受損或無(wú)法正常工作。
Connector溫度過(guò)熱潛在風(fēng)險(xiǎn)2:材料膨脹不均
connector中所使用的材料在高溫下可能會(huì)膨脹,如果不同部位材料的膨脹率不一致,就很有可能導(dǎo)致connector的結(jié)構(gòu)變形或破裂,進(jìn)而影響connector的可靠性和耐用性。
Connector溫度過(guò)熱潛在風(fēng)險(xiǎn)3:導(dǎo)熱不良
connector在高溫下可能會(huì)產(chǎn)生大量熱量,如果connector的散熱設(shè)計(jì)不良或材料的導(dǎo)熱性能不佳,極可能會(huì)導(dǎo)致connector溫度升高速度過(guò)快,從而影響connector的性能和壽命。
Connector溫度過(guò)熱潛在風(fēng)險(xiǎn)4:焊接問(wèn)題
connector中的焊接點(diǎn)在高溫下可能會(huì)受到應(yīng)力和熱膨脹的影響,這將容易導(dǎo)致焊接點(diǎn)斷裂或松動(dòng),進(jìn)而對(duì)connector的連接可靠性產(chǎn)生負(fù)面影響。
上述的connector潛在風(fēng)險(xiǎn)不僅會(huì)大大增加產(chǎn)品故障或損壞的可能性,造成用戶在產(chǎn)品體驗(yàn)大打折扣,嚴(yán)重者甚至引起火災(zāi),威脅到消費(fèi)者生命財(cái)產(chǎn)的安全。
Connector溫度過(guò)熱問(wèn)題如何改善?
針對(duì)connector發(fā)熱問(wèn)題,USB協(xié)會(huì)設(shè)計(jì)了一套Connector溫升測(cè)試,其目的是為了評(píng)估Connector在充電過(guò)程中的溫度變化情況。而這種溫升測(cè)試除了可以檢驗(yàn)connector在高功率充電期間產(chǎn)生高溫下的性能和可靠性,更可同時(shí)確保其能夠正常運(yùn)作,不會(huì)因溫度升高而損壞或失效。
有了溫升測(cè)試這項(xiàng)利器,我們即可針對(duì)connector的耐熱性能、溫度穩(wěn)定性、導(dǎo)熱性能等諸多特性來(lái)進(jìn)行相關(guān)評(píng)估,并確保其能夠在高溫環(huán)境下長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行。此外,溫升測(cè)試還可以用來(lái)驗(yàn)證connector的設(shè)計(jì)和材料的選擇上是否符合相關(guān)的溫度要求與標(biāo)準(zhǔn)。
專家怎么做?
百佳泰透過(guò)Power supply和E-load來(lái)穩(wěn)定輸出測(cè)試電流給connector,并使用DAQ實(shí)時(shí)記錄connector的溫升狀況,結(jié)合以上儀器來(lái)快速達(dá)到仿真connector充電的使用情境,確保其在使用過(guò)程中的溫度變化符合USB協(xié)會(huì)的規(guī)定。
Connector溫升測(cè)試:實(shí)測(cè)案例解析
為方便大家進(jìn)一步了解,接下來(lái)我們列舉兩個(gè)USB認(rèn)證Fail的例子如下:,
案例1:Connector本身材質(zhì)影響,導(dǎo)致USB認(rèn)證無(wú)法通過(guò)
Connector的LLCR值若小于30?,對(duì)于溫升測(cè)試上比較能達(dá)到USB協(xié)會(huì)所規(guī)定△30℃(溫升值減去室溫_23~25℃之間)。由于阻抗過(guò)高會(huì)增加消耗的功耗,進(jìn)而促進(jìn)溫度的提升。
案例2:客戶提供的測(cè)試板不符合規(guī)范,導(dǎo)致USB認(rèn)證無(wú)法通過(guò)
測(cè)試治具Layout線不可太細(xì)。這是因?yàn)樘?xì)的Layout線會(huì)因?yàn)樽杩龟P(guān)系使得溫度提升,下圖以USB協(xié)會(huì)所規(guī)定Layout線尺寸和實(shí)際樣品Layout線太細(xì)為例。
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