MIPI移動(dòng)產(chǎn)業(yè)處理器接口(英文全名為Mobile Industry Processor Interface，簡(jiǎn)稱MIPI)， 是由MIPI聯(lián)盟針對(duì)移動(dòng)設(shè)備（如：智能型手機(jī)、平板計(jì)算機(jī)、筆記本電腦和混合裝置等各種移動(dòng)裝置）的處理器設(shè)計(jì)所定義的規(guī)范，隨著5G、人工智能、物聯(lián)網(wǎng)等技術(shù)日漸成熟，相關(guān)處理器及裝置需求也越來(lái)越高，MIPI規(guī)范成為重要角色。

MIPI規(guī)范共有六種類型的接口，其中MIPI規(guī)范中的多媒體（Multimedia）類別，如下圖所示，主要分為三個(gè)層面：

◆ 應(yīng)用層(Application Layer)
◆ 協(xié)定層(Protocol Layer)
◆ 物理層(PHY Layer)

而MIPI主要應(yīng)用類型可分為Camera (CSI)、Display (DSI)、Storage(UFS)。

如同多數(shù)的技術(shù)接口，MIPI聯(lián)盟也有制定一份標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試文件來(lái)明確定義測(cè)試條件、方法與項(xiàng)目，MIPI的測(cè)試文件稱為規(guī)格一致性測(cè)試(CTS/Conformance Test Suit)文件，通過(guò)一致性測(cè)試可以有效減少影像攝影畫(huà)面噪聲/模糊/失真、影像延遲等問(wèn)題。

和一般認(rèn)證測(cè)試不同的是廠商可參照測(cè)試文件指引自行執(zhí)行一致性測(cè)試，可不用透過(guò)協(xié)會(huì)認(rèn)可的第三方認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室執(zhí)行測(cè)試。若要執(zhí)行此測(cè)試，必須先備齊相關(guān)測(cè)試設(shè)備及環(huán)境，然而根據(jù)百佳泰多年測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，多數(shù)廠商碰到最大的問(wèn)題是并不是在這部分，而是沒(méi)有足夠的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)。由于MIPI多用于移動(dòng)設(shè)備內(nèi)部，必須透過(guò)焊接或是探針直接連接方式進(jìn)行量測(cè)，相較于一般常見(jiàn)的USB、HDMI等外接接口，量測(cè)困難度增加許多。

百佳泰將以常見(jiàn)的D-PHY/C-PHY為例分享產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)常遇到的問(wèn)題。

認(rèn)識(shí)MIPI D-PHY

MIPI D-PHY是一種結(jié)合高速、低功耗的訊號(hào)傳輸模式，主要應(yīng)用于Camera (CSI)、Display (DSI)。

訊號(hào)組合1對(duì)Clock差分訊號(hào)以及1~4對(duì)Data差分訊號(hào)，支持HS mode (High Speed)和LP mode (Low Power) 模式之間切換。

HS mode: 低電壓傳輸，最高數(shù)據(jù)傳輸速度為每Lane 1Gpbs~9Gbps

Transmitter（ TX）測(cè)試的要求與方法：

由于智能型手機(jī)、平板計(jì)算機(jī)、車機(jī)上的鏡頭接口跟影像顯示接口都已是成品的階段，如同前面所提到的，若要進(jìn)行訊號(hào)測(cè)試就只能透過(guò)焊接或是探針直接連接方式進(jìn)行量測(cè)。

下圖是測(cè)試環(huán)境的連接示意圖：

測(cè)試設(shè)備是使用Keysight D9020DPHC及相符性測(cè)試軟件，針對(duì)MIPI D-PHY v2.1第9節(jié)以下及C-PHY CTS V2.1第1節(jié)以下的規(guī)格進(jìn)行完整測(cè)試。

主要測(cè)項(xiàng)如下：

? High Speed Data/Clock TX

? Low Power Data/Clock TX

? Data/Clock Transmitter(HS Entry、HS Exit)

? High Speed Data-Clock Timing

認(rèn)識(shí)MIPI C-PHY

與D-PHY相同，結(jié)合高速、低功耗的訊號(hào)傳輸模式，應(yīng)用于（CSI、DSI）。

兩者主要差異點(diǎn)如下：

Transmitter （TX）測(cè)試的要求與方法：

測(cè)試設(shè)備是使用Keysight D9010CPHC MIPI C-PHY Compliance Test Software，可針對(duì)MIPI C-PHY v1.2第9節(jié)和C-PHY CTS v1.1第1節(jié)的規(guī)格進(jìn)行完整測(cè)試。

主要測(cè)項(xiàng)如下：

? High-Speed Transmitter (HS-TX) Electrical Tests

? Global Timing Tests(T3-Prepare、HS Exit)

上圖擷取不同模式，進(jìn)行訊號(hào)的示意圖

案例分享

1.量測(cè)位置影響測(cè)試質(zhì)量

MIPI D-PHY/C-PHY TX主要規(guī)范是量測(cè)芯片輸出端。

如測(cè)試點(diǎn)位位置過(guò)遠(yuǎn)，那么就會(huì)影響訊號(hào)的衰減，且當(dāng)driver能力不夠時(shí)會(huì)造成rise/fall爬升能力不夠，導(dǎo)致over spec、質(zhì)量訊號(hào)較差。

D-PHY

C-PHY

2.芯片timing參數(shù)設(shè)定調(diào)整有誤導(dǎo)致測(cè)試Fail

因芯片timing參數(shù)設(shè)定問(wèn)題，導(dǎo)致Data/Clock Transmitter(HS Entry、HS Exit) timing fail。百佳泰建議Timing skew fail可透過(guò)芯片商提供修改參數(shù)來(lái)調(diào)整。

如下圖可見(jiàn)當(dāng)數(shù)值低于50，則會(huì)導(dǎo)致over spec； 反之，如數(shù)值高于50，數(shù)據(jù)結(jié)果會(huì)出現(xiàn)Pass。

百佳泰測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

百佳泰建置了完整的方案，可協(xié)助客戶根據(jù)MIPI標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試關(guān)鍵量測(cè)參數(shù)，以確保客戶的裝置擁有出色的效能，同時(shí)百佳泰還擁有相關(guān)設(shè)備可提供各種訊號(hào)完整性測(cè)試能力，例如DDR, UFS, Ethernet…等，如有任何需求，歡迎填寫(xiě)窗體隨時(shí)跟我們聯(lián)系。