Allion Labs / Blake Chu

溫度，對于電子元組件來說，一直都是不可避免的問題。以儲存裝置來說，一般的HDD/SSD在通電運作過程時，工作溫度通常在0°C~60°C上下都是正常的溫度范圍。若溫度高過70°C以上，除了影響效能，更會導(dǎo)致產(chǎn)品壽命提前結(jié)束。裝設(shè)在服務(wù)器中的HDD/SSD，考慮到穩(wěn)定耐用度，溫度更是產(chǎn)品設(shè)計的必要考慮因素之一。

以工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)來計算(JEDEC Data Retention)，我們可以在可靠性測試(reliability)中，利用溫度變化的條件，來仿真儲存裝置老化實驗，驗證該產(chǎn)品老化試驗下壽命的表現(xiàn)。百佳泰身為測試驗證領(lǐng)導(dǎo)品牌，提供了相關(guān)客制化專用測試平臺與恒溫濕度控制設(shè)備，提供HDD/SSD相對應(yīng)的可靠性壽命試驗，為客戶產(chǎn)品可靠度把關(guān)。

關(guān)于HDD/SSD可靠性測試，就溫度因素觀點探討，我們可以從下面試驗方向進(jìn)行驗證:

• 溫度變化試驗(Thermal Cycling test)：在HDD/SSD工作溫度范圍內(nèi)，穩(wěn)定升溫，觀察其效能變化，找出其弱點。

• 高低電壓/溫度試驗(4-corner test)：利用HDD/SSD高低工作溫度值，以及工作電壓+/- 5%四個條件，設(shè)計成四個象限的corner test，進(jìn)行長時間的讀寫混合測試，驗證HDD/SSD在高低溫度電壓下的效能。

• 高溫老化試驗(Retention test with High temp)：依照J(rèn)EDEC規(guī)范寫入數(shù)據(jù)，接著將待測物斷電放進(jìn)chamber，進(jìn)行長時間高溫測試，最后再將待測物移至測試儀器上進(jìn)行SMART check以及全碟讀取檢查。

溫度過高對硬盤會有什么樣的影響？

這邊舉高溫老化試驗來說明，在不同溫度與時間的條件下，將硬盤斷電放進(jìn)chamber進(jìn)行測試后，用執(zhí)行全碟讀取檢查的運行時間，作為結(jié)果判斷依據(jù)。如果運行時間延長，即代表產(chǎn)品老化的反應(yīng)奏效。從（表一）結(jié)果可以發(fā)現(xiàn)，雖然長時間一定溫度下的劣化結(jié)果不明顯，不過在高溫125°C條件下，超過10小時之后，讀取效能開始明顯的下降。

（表一）

我們接下來探討125°C/24 hrs.這個條件下的結(jié)果。以下這些SSD透過SMART check回報時，皆為正常狀態(tài)。接著逐一進(jìn)行全碟讀取檢查，就可以在此看出些端倪。首先，就運行時間來看，可以發(fā)現(xiàn)到「SSD A」效能明顯較低，需要最久的時間才能完成測試。另外，從延遲反應(yīng)來看，「SSD A」相較其他三顆，Rank B以上的延遲時間比例明顯提高，故我們可以了解到高溫老化對于一些體質(zhì)較差的SSD來說會造成效能下降的嚴(yán)重影響。

(Rank A低于0.5 mSec，延遲低，效能好；Rank 高于10 mSec，延遲高，效能差。故Rank能集中在AB是相對好的)

針對HDD/SSD可靠度測試，百佳泰提供與日本知名實驗室合作之「Hirota Smart Teste」測試儀器與共同開發(fā)腳本，結(jié)合專為HDD/SSD開發(fā)的可程序恒溫恒濕試驗機來執(zhí)行可靠性測試。除此之外，更可以依照客戶需求，溫度／時間客制化、階梯化設(shè)置等控制，來驗證客戶產(chǎn)品的可靠度。