根據(jù)Digitimes Research報告指出，全球觸控面板出貨量預(yù)計在2013年達(dá)到17.5億片，較2012年同比成長17.2%。其中，手機所使用的觸控面板依舊為最主要應(yīng)用類別，其出貨量約為12.8億片，較2012年成長14.2%，且占整體73.0%。平板電腦的出貨量約為2.3億片，占整體13.3%而居次，同比成長38.2%；觸控式PC的出貨量則為2,633萬片左右，同比成長251.3%。值得注意的是，觸控式PC的需求呈現(xiàn)極大幅度的成長，這不僅顯示大尺寸PC在觸控面板具有市場優(yōu)勢外；Digitimes Research也預(yù)估（見圖一），AIO PC占臺式機出貨將持續(xù)攀高，估今年約8.7%，明年可望上看10.4%。

然而，微軟于2012年推出以觸控面板為號召的Windows 8操作系統(tǒng)，卻未如預(yù)期能推升整體PC市場的買氣，盡管市調(diào)機構(gòu)或觸控面板大廠對于2013年的成長動能依舊十分樂觀，但大尺寸觸控應(yīng)用能否開創(chuàng)出新的榮景也取決于其技術(shù)根本的良率、效能以及穩(wěn)定度才是。如何將觸控面板的質(zhì)量達(dá)到最佳狀態(tài)，讓各家廠商或使用者能普及應(yīng)用，將成為百佳泰關(guān)注的焦點。尤其，可預(yù)見的未來應(yīng)用如AIO PC、IVI車載信息娛樂系統(tǒng)等都將升級成觸摸屏；在此，我們特別針對我們在觸控驗證領(lǐng)域的專業(yè)知識與實際測試所面臨的問題和大家分享。

針對觸控面板測試，重點應(yīng)落在兩大方向功能性測試（Functionality test）與精確度測試（Accuracy test）兩方面。

功能性測試

• 裝置兼容性測試

測試目的為檢查DUT在不同系統(tǒng)的USB端口的插拔功能。

•  觸控功能測試

測試目的為檢查觸控面板的觸摸手勢與相關(guān)規(guī)范可否在DUT上正確執(zhí)行。另外，（為確保使用者滿意，微軟也不疑余力的推出觸控驗證的需求標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于Windows 8觸控解決方案，請參考「百佳泰全方位觸控驗證、測試儀器與解決方案 Part I」）。

• 電源管理測試

測試目的為檢查DUT從電源管理狀態(tài)恢復(fù)時的菜單現(xiàn)。

精確度測試

測試目的為透過精密的觸控測試儀器來檢查DUT的觸控精確程度。

正因為要詳盡地測量出觸控面板的功能性與精確度并非易事，涉及的范圍包括裝置本身的硬件、軟件、分位以及算法等因素。不可否認(rèn)地，在經(jīng)過多年時間的技術(shù)演進(jìn)，觸控面板的尺寸除了越作越大之外，使用者都期許能擁有更精確、更節(jié)能且高反應(yīng)良率的觸控產(chǎn)品。為了達(dá)成這項技術(shù)規(guī)格的質(zhì)量穩(wěn)定與效能保障，建立一套完整的測試解決方案絕對是各家廠商在驗證或推出觸控應(yīng)用產(chǎn)品的必要條件。因此，百佳泰特別針對在實際驗證觸控面板測試時，例如電容式或光學(xué)式觸控面板比較常遇到的問題跟分析做一些分享，希望可以提供廠商在開發(fā)或驗證產(chǎn)品時一個參考準(zhǔn)則。

問題分享一：Touch Jitter Tests

在驗證Touch Jitter Tests時，因為觸控手勢所畫的線在抖動（Jitter）超過1 millimeter就會Fail，而在一般垂直或水平的畫線測試上，電容式與光學(xué)式面板都沒有太大的問題。然而，當(dāng)畫線測試為五條斜線、畫圓圈或畫半圓時（表一），不論是電容式或光學(xué)式觸控面板皆容易受到靜電反應(yīng)不良或線路遮蔽的影響而產(chǎn)生誤差，造成測試Fail，因此廠商必須不斷的根據(jù)測試結(jié)果的分位進(jìn)行調(diào)整才能通過測試要求。

問題分享二： Touch Input Tests

當(dāng)觸控手勢為畫五條斜線時，光學(xué)式觸控面板因其技術(shù)為發(fā)射端發(fā)出紅外線而形成紅外線網(wǎng)塊，當(dāng)用戶碰觸屏幕時，部分紅外線會被遮蔽，導(dǎo)致部分接收端無法接受到紅外線，系統(tǒng)因而計算出觸碰位置。此結(jié)構(gòu)的主要優(yōu)點是能以任何物體進(jìn)行操作，然其主要缺點是用戶可能在觸碰屏幕前先遮蔽了紅外線，因而造成錯誤的觸控輸入。因此，再畫五條斜線時，光學(xué)式面板因其感應(yīng)方式不同就容易受到線路遮蔽的影響而產(chǎn)生Fail的情形（表二）。在此，除了建議增加燈管以提高紅外線的網(wǎng)塊區(qū)域外（相對地會提高成本），我們也會建議廠商必須針對算法或分位作更精密的調(diào)整，以合乎規(guī)范的要求。

問題分享三： Touch Physical lnput Tests

在打點測試部分，電容式或光學(xué)式面板都容易Fail；舉電容式面板來說，因其技術(shù)特性為利用排列的透明電極與人體之間的靜電結(jié)合所產(chǎn)生的電容變化，從所產(chǎn)生的誘導(dǎo)電流來檢測其坐標(biāo)。在作Tap Coverage—Center（表三）時，一些比較特定的位置就容易打擊不到測試要求的點；尤其，整個微軟制定的測試要求為50點的位置都要過，只要發(fā)生一次Fail就需要重新調(diào)整算法及分位。

問題分享四：Touch Z Axis Test

對使用者來說，如果在使用觸控面板過程中發(fā)生因為面板太過敏感，使用者尚未觸控到點位時就發(fā)生了反應(yīng)，這樣的狀況會造成很大的困擾。所以在測試面板時，Z軸的觸控測試是需要注意的一個項目。廠品的算法或電流反應(yīng)設(shè)計的不佳時，就會造成觸控面板有類似騰空的觸控反應(yīng)。微軟也特別在這個方面有相關(guān)的規(guī)范，在0.5 millimeter以內(nèi)就有觸控反應(yīng)的結(jié)果是定義為Fail的。

總結(jié)來說，我們可以從實際的驗證經(jīng)驗來歸納兩類別的Fail情況，首先在裝置的硬件和分位「基本宣告」方面，許多廠商的裝置設(shè)定，例如Sample Rate或人因接口裝置協(xié)議等，皆必須遵循其官方宣告及其相關(guān)規(guī)格要求。否則，我們在作觸控測試的基礎(chǔ)檢驗（basic check）時，就容易發(fā)現(xiàn)廠商的裝置宣告并不符合我們的正式驗證要求。另一方面，最容易產(chǎn)生Fail的情形即是實際操作「Touch Jitter」的測試時，其抖動范圍不能超過1 millimeter，或未真正觸摸到時就產(chǎn)生的Z軸報點情形等等。這部份我們準(zhǔn)備了兩套精密的觸控測試儀器來協(xié)助廠商進(jìn)行測試、疑難解答以及再復(fù)測的流程，透過與廠商現(xiàn)場的合作與交流，一起為觸控驗證領(lǐng)域發(fā)掘更多不為人知的議題。

在硬件方面，我們發(fā)現(xiàn)到

• 觸控面板的貼合有誤差會導(dǎo)致實際上接觸的點與觸控面板的反應(yīng)有誤差，關(guān)于這種硬件端的問題則需要更換正常的觸控面板。
• 屏幕外框組裝不良或運送過程撞擊造成浮起，都必須重新鎖緊或更換面板。
• 紅外線燈管故障，造成特定區(qū)域無法判讀，則須更換紅外線燈管。

在分位方面，

• 觸控誤差過大，重新校正。
• 觸控誤差過大，更新分位。
• 觸控誤差過大，更新算法。
• 報點或誤報點，裝上穩(wěn)壓器來解決電源噪聲的干擾或更新算法。

盡管各廠商與使用者對于觸控面板的發(fā)展皆抱持樂觀的態(tài)度，觸控的使用情境也將不斷蔓延至各式的電子裝置上；從目前的供應(yīng)鏈狀況來看，或許大家關(guān)心的不外乎為觸控面板的產(chǎn)能規(guī)?；蚋骷业墓┴浤芰?。然而，市場接受度取決于終端價格與成本控制等外在因素；觸控面板的良率、技術(shù)以及反應(yīng)提升才是觸控面板商業(yè)規(guī)模能否成功推向中、大尺寸裝置的關(guān)鍵成功因素。

我們在此特別探討觸控驗證的幾項關(guān)鍵議題與解決方案，除了觸控技術(shù)如電阻式、電容式或光學(xué)式等等不同，在驗證時就必須根據(jù)其技術(shù)根本的不同來進(jìn)行差異化的驗證方案。觸控技術(shù)的發(fā)展仍在持續(xù)演進(jìn)，惟透過更深入的研究、技術(shù)資源與精力投入，才能找出關(guān)鍵的技術(shù)升級模式和相關(guān)解決方案，讓市面上越來越普及的觸控裝置達(dá)到最佳良率、效能的理想目標(biāo)。百佳泰推出完整的觸控測試解決方案并針對這些驗證過程中發(fā)現(xiàn)的問題肇因作出歸納性的報告，以提供相關(guān)廠商問題偵錯與肇因的協(xié)尋與技術(shù)支持。如有任何關(guān)于觸控驗證或Windows 8觸控測試等技術(shù)支持等疑問，歡迎徑洽百佳泰。