百佳泰使用儀器來(lái)做音質(zhì)的量測(cè),以不同角度來(lái)衡量不同特性的電容產(chǎn)品,進(jìn)而測(cè)試其對(duì)于音質(zhì)相關(guān)項(xiàng)目的差異性。第一次的測(cè)試是采用計(jì)算機(jī)市場(chǎng)上普遍的音質(zhì)測(cè)試項(xiàng)目,其測(cè)試內(nèi)容定義了量測(cè)帶寬范圍在人耳可以接受的20Hz-20KHz頻率范圍,而系統(tǒng)譯碼的音頻采樣率使用了最常見(jiàn)的44K和48K二種,但測(cè)試結(jié)果不如預(yù)期,無(wú)法明顯看出差異性。
在第二次的測(cè)試我們使用了采樣率192KHz的數(shù)字音頻檔案做為訊源,192KHz的取采樣率理論上可以達(dá)到90KHz左右的頻率,針對(duì)新的項(xiàng)目我們特地重新制作產(chǎn)生可以達(dá)到80KHz的Sweep音訊檔案,同時(shí)將帶寬設(shè)定為80KHz。(受限于儀器Audio Precision SYS-2722可限制帶寬只到80K),并移除AES-17濾波器40KHz限制的設(shè)定。
測(cè)試的項(xiàng)目則集中著重在失真和頻率響應(yīng)二個(gè)項(xiàng)目,同時(shí)在原有的10K ohm 和 320 ohm 負(fù)載測(cè)試下,增加一個(gè)32 ohm的測(cè)試(32ohm為大部份耳機(jī)的規(guī)格)。
圖:帶寬限制放寬并不會(huì)濾掉由超高頻而來(lái)的噪聲
1. Total Harmonic Distortion Amplitude Plus Noise vs 80K Frequency (THD+N 在 80KHz的表現(xiàn))
With 10K Ohm Loading
電解電容
固態(tài)電容
with 32 Ohm Loading
電解電容
固態(tài)電容
量測(cè)結(jié)果顯示,負(fù)載掛10Kohm時(shí),將測(cè)量范圍拉到80KHz,低通濾波器也放寬到80KHz,此時(shí)高頻失真會(huì)集中在20KHz -24KHz的頻率范圍內(nèi),不過(guò)整體來(lái)看失真還是小于-75dB,表現(xiàn)真的很優(yōu)秀。
當(dāng)負(fù)載改成32ohm時(shí),整體的失真提高到-70dB上下,原因可能是32ohm的負(fù)載降低了輸出電壓,參考值變低但噪訊不變而影響。假設(shè)根據(jù)Microsoft文件中針對(duì)負(fù)載不同的標(biāo)準(zhǔn)偏差異20dB來(lái)看,-69dB的失真還是低于標(biāo)準(zhǔn)-55dB相當(dāng)多。更換不同材質(zhì)電容還是無(wú)法從實(shí)驗(yàn)結(jié)果中看到差異。
2. Frequency Response 80K(頻率響應(yīng) 在 80KHz的表現(xiàn))
With 10K Ohm Loading
電解電容
固態(tài)電容
with 32 Ohm Loading
電解電容
固態(tài)電容
量測(cè)結(jié)果顯示,負(fù)載掛10Kohm時(shí),將測(cè)量范圍拉到80KHz,在高頻和低頻截止區(qū)的衰減皆不到1dB,這代表著就算聆聽(tīng)目前可以取得的任何超高音源,皆不太可能會(huì)感受到某頻段衰減,除非是因?yàn)槭д嬉鸬穆?tīng)感變化。
而負(fù)載改成32ohm時(shí),低頻則會(huì)衰減較大,但在20Hz的部份仍然是沒(méi)有超過(guò)Microsoft的標(biāo)準(zhǔn),沒(méi)有衰減超過(guò)3dB。更換電容到目前為止仍然是看不出有任何差異。
第二次測(cè)試結(jié)論
根據(jù)量測(cè)結(jié)果顯示,在新測(cè)試條件如此苛刻的情況下,不同電容產(chǎn)品仍然保持低失真、衰減、噪聲的質(zhì)量。因?yàn)閹挿秶O(shè)定較大,所以更可以確定在人耳敏感的小范圍內(nèi)將會(huì)保持一定水平,且可以確定測(cè)試報(bào)告上的良好數(shù)據(jù)并不是因?yàn)閮x器排除掉Out of band noise。
在所有的音質(zhì)評(píng)測(cè)里,受測(cè)的兩種電容表現(xiàn)并沒(méi)有太大差異。百佳泰依舊想找出評(píng)量音頻組件對(duì)音質(zhì)差異的影響關(guān)鍵,因此測(cè)試團(tuán)隊(duì)花費(fèi)心思了解音響、聲音及訊號(hào)等細(xì)節(jié),進(jìn)而設(shè)計(jì)出第三套測(cè)試來(lái)檢測(cè)。