盗墓笔记第二季,欢乐颂小说txt,完美世界辰东小说下载 http://wsmcp.cn High Speed, High Frequency Consulting| Wed, 06 Nov 2024 08:45:19 +0000 zh-TW hourly 1 http://wsmcp.cn/wp-content/uploads/2018/11/cropped-fav-icon-32x32.png 系統(tǒng)實(shí)測(cè) – 百佳泰 Allion Labs http://wsmcp.cn 32 32 HALT高加速壽命試驗(yàn):快速揭露產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷的極限測(cè)試推進(jìn)器 http://wsmcp.cn/tech_sysc_halt_test/ Tue, 27 Feb 2024 01:30:05 +0000 http://wsmcp.cn/?p=25458

在強(qiáng)調(diào)可移植性(portable)的年代,人稱「二合一筆電」的平板筆電便成為許多消費(fèi)者趨之若鶩的3C產(chǎn)品。說(shuō)到平板筆電,不論是其雙向連接設(shè)計(jì),面板與鍵盤底座可分離的獨(dú)特功能,再加上兼具筆電模式、平板模式、翻轉(zhuǎn)模式及帳篷模式等多種使用方式,讓使用者在不同的使用情境下都能隨意調(diào)整,輕巧靈活的便利性也為多數(shù)消費(fèi)者提供了絕佳的使用體驗(yàn)。然而也正是這樣的獨(dú)特設(shè)計(jì),潛藏著傳統(tǒng)筆電供貨商在產(chǎn)品設(shè)計(jì)上容易忽視的潛在風(fēng)險(xiǎn)。

 

平板筆電Surface Pro 7+ 的各種使用模式。
平板筆電Surface Pro 7+ 的各種使用模式。圖片出處:Microsoft Community Hub

 

平板筆電的耐用度風(fēng)險(xiǎn)?

一般二合一平板筆電的面板與鍵盤底座主要采用Pogo Pin或磁吸的連接方式來(lái)傳遞訊號(hào),若是出現(xiàn)設(shè)計(jì)質(zhì)量不佳或是選料與組裝等前期問題,就容易導(dǎo)致面板與底座間的接觸不良,進(jìn)而影響訊號(hào)溝通,造成鍵盤底座的功能失效(包含鍵盤、硬盤、I/O擴(kuò)展槽等皆無(wú)法使用),最終引發(fā)客訴問題。然而麻煩的是,類似這樣的產(chǎn)品耐用度風(fēng)險(xiǎn)往往無(wú)法在開發(fā)階段被有效地發(fā)現(xiàn),而是要等到產(chǎn)品上市一段時(shí)間后才會(huì)逐漸浮現(xiàn)。

 

HALT高加速壽命試驗(yàn)實(shí)例分享

針對(duì)這類型的產(chǎn)品耐用問題,百佳泰專業(yè)顧問團(tuán)隊(duì)建議廠商可進(jìn)行HALT高加速壽命試驗(yàn)(Highly accelerated life test)來(lái)及早發(fā)現(xiàn)及預(yù)防產(chǎn)品設(shè)計(jì)上的潛在缺陷。HALT是一種能夠在產(chǎn)品設(shè)計(jì)初、中期快速檢視產(chǎn)品目前在設(shè)計(jì)上的優(yōu)缺點(diǎn),透過設(shè)置逐級(jí)遞增、加嚴(yán)的環(huán)境應(yīng)力,挖掘產(chǎn)品在不同階段的設(shè)計(jì)上、制造上及以及使用上等產(chǎn)品弱點(diǎn)及相關(guān)缺陷。

百佳泰為全亞洲惟有可提供Typhoon 8.0 HALT 高加速壽命試驗(yàn)測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室。
百佳泰為全亞洲惟有可提供Typhoon 8.0 HALT 高加速壽命試驗(yàn)測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室。

 

HALT試驗(yàn)流程圖

百佳泰根據(jù)豐富的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)提供Root Cause以及debug方向,如需進(jìn)一步分析并從旁協(xié)助,可以讓研發(fā)工程師在修改設(shè)計(jì)或更換零件得到正確的方向,進(jìn)而提升產(chǎn)品可靠度。
百佳泰根據(jù)豐富的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)提供Root Cause以及debug方向,如需進(jìn)一步分析并從旁協(xié)助,可以讓研發(fā)工程師在修改設(shè)計(jì)或更換零件得到正確的方向,進(jìn)而提升產(chǎn)品可靠度。

 

在百佳泰過往的合作案例中,就曾經(jīng)協(xié)助廠商的二合一平板電腦進(jìn)行高加速壽命測(cè)試驗(yàn)證。當(dāng)產(chǎn)品隨著步階式與復(fù)合式應(yīng)力的施加,我們發(fā)現(xiàn)轉(zhuǎn)軸左右兩端的塑料導(dǎo)軌固定不良、面板與鍵盤底座磁吸的部分無(wú)法吸附,進(jìn)而造成底座鍵盤無(wú)法打字、硬盤無(wú)法辨識(shí)的問題,必須調(diào)整角度讓磁吸部分確實(shí)吸住后,才能正常使用。此外,我們也發(fā)現(xiàn)屏幕、鍵盤、電池等零組件上存在著組裝及選料等相關(guān)問題。為此,百佳泰利用微型應(yīng)變傳感器黏貼在要觀測(cè)的產(chǎn)品機(jī)構(gòu)表面上觀察其微量型變,包含透過電阻的變化并使用量化來(lái)呈現(xiàn)機(jī)構(gòu)的變化,同時(shí)也監(jiān)測(cè)housing, PCB等材料表面型變并量化數(shù)據(jù),藉此比對(duì)前后差異。

除了機(jī)構(gòu)方面的問題,在電性的訊號(hào)量測(cè)方面,百佳泰為進(jìn)行問題的分類與識(shí)別,也透過軟件檢測(cè)訊號(hào)傳輸封包來(lái)幫助客戶快速厘清,看看究竟是電力相關(guān)問題,還是數(shù)據(jù)傳輸信號(hào)的問題而導(dǎo)致。

 

經(jīng)過環(huán)境應(yīng)力的可靠度測(cè)試及HALT測(cè)試后,百佳泰在該平板筆電發(fā)現(xiàn)了以下問題:

經(jīng)過環(huán)境應(yīng)力的可靠度測(cè)試及HALT測(cè)試后,百佳泰在該平板筆電發(fā)現(xiàn)問題

與一般的環(huán)境測(cè)試相比,,使用復(fù)合應(yīng)力的HALT測(cè)試可在更短的時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)早期的產(chǎn)品問題。
與一般的環(huán)境測(cè)試相比,,使用復(fù)合應(yīng)力的HALT測(cè)試可在更短的時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)早期的產(chǎn)品問題。

 

在這個(gè)案例中,我們發(fā)現(xiàn)在真實(shí)使用情境下,使用者只要使用一段時(shí)間后也會(huì)發(fā)生同樣的問題,不僅嚴(yán)重影響使用者體驗(yàn),同時(shí)也大大降低未來(lái)的購(gòu)買意愿。因此百佳泰顧問團(tuán)隊(duì)在提出問題并給予調(diào)整建議后,該廠商決定提前改善了Pogo Pin的設(shè)計(jì)強(qiáng)度與電路板上零組件選料等程序后,也避免了往后可能需要面臨的維修及換貨風(fēng)險(xiǎn)。

 

Faster, Easier, Better!系統(tǒng)驗(yàn)證顧問解決方案

隨著高頻/高速產(chǎn)品應(yīng)用的多元化,傳統(tǒng)的可靠度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)已難以對(duì)應(yīng)現(xiàn)今需求。我們深知使用者情境在揭露潛在風(fēng)險(xiǎn)時(shí)所起到的關(guān)鍵作用。憑借著豐富的使用者情境測(cè)試經(jīng)驗(yàn),百佳泰提供客戶更快速、更便利,同時(shí)更加完善的使用者可靠度驗(yàn)證顧問服務(wù),更可因應(yīng)不同的產(chǎn)品需求,提供完整訊號(hào)、功能測(cè)試與相關(guān)認(rèn)證服務(wù)。以筆電平臺(tái)為例,百佳泰還可以搭配驗(yàn)證客戶產(chǎn)品包含eDP、PCIe、SATA、HDMI、USB、Thunderbolt、Ethernet等訊號(hào)在兼容性與穩(wěn)定性上是否符合標(biāo)準(zhǔn),協(xié)助客戶即早發(fā)現(xiàn)相關(guān)問題并改善錯(cuò)誤,降低未來(lái)維修及退貨的成本。

 

Faster?

百佳泰具備混合測(cè)試(高低溫及震動(dòng)的復(fù)合性評(píng)估)能力,例如規(guī)格建議、供貨商遴選乃至于樣品的規(guī)格確認(rèn)。不論身處在哪種產(chǎn)品階段,百佳泰皆能針對(duì)各項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)或各種尺寸及規(guī)格提供對(duì)應(yīng)服務(wù),協(xié)助客戶進(jìn)一步加快產(chǎn)品檢測(cè)周期。

Easier?

一旦發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品存在著相關(guān)潛在風(fēng)險(xiǎn),百佳泰可協(xié)助客戶厘清問題可能發(fā)生的原因、同時(shí)提供除錯(cuò)支持及建議的解決方案,以更簡(jiǎn)單的方式,提升產(chǎn)品的質(zhì)量與整體效能。

Better?

百佳泰不僅擁有超過30年以上的專業(yè)實(shí)績(jī)、專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)以及一應(yīng)俱全的測(cè)試環(huán)境與儀器設(shè)備,憑借著豐富的使用者情境測(cè)試經(jīng)驗(yàn),致力于提供客戶更加完善的服務(wù)質(zhì)量。

百佳泰致力于提供客戶Faster、Easier、Better的高質(zhì)量服務(wù)體驗(yàn)

若您有任何系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)證或是顧問咨詢服務(wù)需求,歡迎瀏覽以下服務(wù),或是填寫下方的聯(lián)系窗口與我們聯(lián)系,百佳泰服務(wù)團(tuán)隊(duì)將誠(chéng)摯為您服務(wù)!

.系統(tǒng)檢測(cè)驗(yàn)證服務(wù)

.使用者可靠度測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

.HALT 高加速壽命試驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室

 

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USB產(chǎn)品充電過熱的4大潛在風(fēng)險(xiǎn),Connector溫升測(cè)試實(shí)例解析 http://wsmcp.cn/tech_cabc_temperature_rise_test/ Fri, 23 Feb 2024 01:30:26 +0000 http://wsmcp.cn/?p=25440 前言

相信大家都有替手機(jī)或電子產(chǎn)品充電的經(jīng)驗(yàn),而在進(jìn)行充電的過程中我們往往都會(huì)遇到手機(jī)或電子產(chǎn)品充電過熱的狀況,然而這個(gè)發(fā)熱現(xiàn)象有可能來(lái)自于電池或是充電回路的IC;又或者是另一個(gè)比較少人特別留意的組件,那就是充電用的連接器!(以下簡(jiǎn)稱Connector)

USB產(chǎn)品充電過熱的4大潛在風(fēng)險(xiǎn),Connector溫升測(cè)試實(shí)例解析
圖片出處:inkl.com

 

Connector溫度過熱的4大潛在風(fēng)險(xiǎn) ?

一旦connector的溫度過熱,對(duì)電子產(chǎn)品可能造成的影響主要可分為以下4大風(fēng)險(xiǎn):

 

Connector溫度過熱潛在風(fēng)險(xiǎn)1:電氣性能降低

在高溫環(huán)境下,connector的電氣性能可能會(huì)受到導(dǎo)通電阻增加、信號(hào)傳輸損耗增加等各種影響,而這些現(xiàn)象都可能導(dǎo)致connector的功能受損或無(wú)法正常工作。

Connector溫度過熱潛在風(fēng)險(xiǎn)2:材料膨脹不均

connector中所使用的材料在高溫下可能會(huì)膨脹,如果不同部位材料的膨脹率不一致,就很有可能導(dǎo)致connector的結(jié)構(gòu)變形或破裂,進(jìn)而影響connector的可靠性和耐用性。

Connector溫度過熱潛在風(fēng)險(xiǎn)3:導(dǎo)熱不良

connector在高溫下可能會(huì)產(chǎn)生大量熱量,如果connector的散熱設(shè)計(jì)不良或材料的導(dǎo)熱性能不佳,極可能會(huì)導(dǎo)致connector溫度升高速度過快,從而影響connector的性能和壽命。

Connector溫度過熱潛在風(fēng)險(xiǎn)4:焊接問題

connector中的焊接點(diǎn)在高溫下可能會(huì)受到應(yīng)力和熱膨脹的影響,這將容易導(dǎo)致焊接點(diǎn)斷裂或松動(dòng),進(jìn)而對(duì)connector的連接可靠性產(chǎn)生負(fù)面影響。

 

上述的connector潛在風(fēng)險(xiǎn)不僅會(huì)大大增加產(chǎn)品故障或損壞的可能性,造成用戶在產(chǎn)品體驗(yàn)大打折扣,嚴(yán)重者甚至引起火災(zāi),威脅到消費(fèi)者生命財(cái)產(chǎn)的安全。

 

Connector溫度過熱問題如何改善?

針對(duì)connector發(fā)熱問題,USB協(xié)會(huì)設(shè)計(jì)了一套Connector溫升測(cè)試,其目的是為了評(píng)估Connector在充電過程中的溫度變化情況。而這種溫升測(cè)試除了可以檢驗(yàn)connector在高功率充電期間產(chǎn)生高溫下的性能和可靠性,更可同時(shí)確保其能夠正常運(yùn)作,不會(huì)因溫度升高而損壞或失效。

有了溫升測(cè)試這項(xiàng)利器,我們即可針對(duì)connector的耐熱性能、溫度穩(wěn)定性、導(dǎo)熱性能等諸多特性來(lái)進(jìn)行相關(guān)評(píng)估,并確保其能夠在高溫環(huán)境下長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行。此外,溫升測(cè)試還可以用來(lái)驗(yàn)證connector的設(shè)計(jì)和材料的選擇上是否符合相關(guān)的溫度要求與標(biāo)準(zhǔn)。

 

專家怎么做?

百佳泰透過Power supply和E-load來(lái)穩(wěn)定輸出測(cè)試電流給connector,并使用DAQ實(shí)時(shí)記錄connector的溫升狀況,結(jié)合以上儀器來(lái)快速達(dá)到仿真connector充電的使用情境,確保其在使用過程中的溫度變化符合USB協(xié)會(huì)的規(guī)定。

百佳泰透過Power supply和E-load來(lái)穩(wěn)定輸出測(cè)試電流給connector,并使用DAQ實(shí)時(shí)記錄connector的溫升狀況

 

Connector溫升測(cè)試:實(shí)測(cè)案例解析

為方便大家進(jìn)一步了解,接下來(lái)我們列舉兩個(gè)USB認(rèn)證Fail的例子如下:,

 

案例1:Connector本身材質(zhì)影響,導(dǎo)致USB認(rèn)證無(wú)法通過

Connector的LLCR值若小于30?,對(duì)于溫升測(cè)試上比較能達(dá)到USB協(xié)會(huì)所規(guī)定△30℃(溫升值減去室溫_23~25℃之間)。由于阻抗過高會(huì)增加消耗的功耗,進(jìn)而促進(jìn)溫度的提升。

溫升曲線Fail案例

 

案例2:客戶提供的測(cè)試板不符合規(guī)范,導(dǎo)致USB認(rèn)證無(wú)法通過

測(cè)試治具Layout線不可太細(xì)。這是因?yàn)樘?xì)的Layout線會(huì)因?yàn)樽杩龟P(guān)系使得溫度提升,下圖以USB協(xié)會(huì)所規(guī)定Layout線尺寸和實(shí)際樣品Layout線太細(xì)為例。

客戶提供的測(cè)試板不符合規(guī)范,導(dǎo)致USB認(rèn)證無(wú)法通過

 

Faster, Easier, Better!值得您信賴的檢測(cè)技術(shù)顧問

憑借其業(yè)界領(lǐng)先的高頻高速量測(cè)能力以及累積超過30年的項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn),百佳泰作為USB協(xié)會(huì)官方授權(quán)的認(rèn)證測(cè)試實(shí)驗(yàn)室,持續(xù)為USB與線纜連接器相關(guān)的產(chǎn)品客戶帶來(lái)全方位的客制化技術(shù)支持。不論身處在哪種產(chǎn)品階段,百佳泰都能協(xié)助客戶提升產(chǎn)品質(zhì)量、優(yōu)化生產(chǎn)效率,提供更快速、更便利,同時(shí)更加完善的整合咨詢服務(wù)與解決方案。

 

Faster 更快速

百佳泰具有完整豐富的設(shè)備環(huán)境,包含電器、機(jī)構(gòu)、環(huán)測(cè)及可靠度等儀器設(shè)備一應(yīng)俱全,協(xié)助客戶進(jìn)一步提升產(chǎn)品檢測(cè)效率??焖偻ㄟ^認(rèn)證規(guī)范要求。。

Easier 更便利

一旦在驗(yàn)證過程揭露出問題,百佳泰將全程協(xié)助客戶進(jìn)行問題分析與除錯(cuò)支援,同時(shí)提供解決方案的建議,讓產(chǎn)品能在更短的時(shí)間內(nèi)改善潛在問題。

Better 更完善?

針對(duì)不同產(chǎn)品的各種測(cè)試需求,百佳泰可為客戶量身打造客制化測(cè)試服務(wù)內(nèi)容,同時(shí)依照客戶所提供的測(cè)試內(nèi)容來(lái)執(zhí)行測(cè)試,例如治具板的繪制與制作、測(cè)試內(nèi)容的選定與建議等等。

百佳泰致力于提供客戶Faster、Easier、Better的高質(zhì)量服務(wù)體驗(yàn)

若您對(duì)于USB Connector有任何測(cè)試、驗(yàn)證或是顧問咨詢服務(wù)等相關(guān)進(jìn)一步需求,歡迎填寫下方的聯(lián)系窗口與我們聯(lián)系,百佳泰服務(wù)團(tuán)隊(duì)將誠(chéng)摯為您服務(wù)!

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