相信大家都有替手機或電子產品充電的經驗,而在進行充電的過程中我們往往都會遇到手機或電子產品充電過熱的狀況,然而這個發(fā)熱現(xiàn)象有可能來自于電池或是充電回路的IC;又或者是另一個比較少人特別留意的組件,那就是充電用的連接器!(以下簡稱Connector)
一旦connector的溫度過熱,對電子產品可能造成的影響主要可分為以下4大風險:
在高溫環(huán)境下,connector的電氣性能可能會受到導通電阻增加、信號傳輸損耗增加等各種影響,而這些現(xiàn)象都可能導致connector的功能受損或無法正常工作。
connector中所使用的材料在高溫下可能會膨脹,如果不同部位材料的膨脹率不一致,就很有可能導致connector的結構變形或破裂,進而影響connector的可靠性和耐用性。
connector在高溫下可能會產生大量熱量,如果connector的散熱設計不良或材料的導熱性能不佳,極可能會導致connector溫度升高速度過快,從而影響connector的性能和壽命。
connector中的焊接點在高溫下可能會受到應力和熱膨脹的影響,這將容易導致焊接點斷裂或松動,進而對connector的連接可靠性產生負面影響。
上述的connector潛在風險不僅會大大增加產品故障或損壞的可能性,造成用戶在產品體驗大打折扣,嚴重者甚至引起火災,威脅到消費者生命財產的安全。
針對connector發(fā)熱問題,USB協(xié)會設計了一套Connector溫升測試,其目的是為了評估Connector在充電過程中的溫度變化情況。而這種溫升測試除了可以檢驗connector在高功率充電期間產生高溫下的性能和可靠性,更可同時確保其能夠正常運作,不會因溫度升高而損壞或失效。
有了溫升測試這項利器,我們即可針對connector的耐熱性能、溫度穩(wěn)定性、導熱性能等諸多特性來進行相關評估,并確保其能夠在高溫環(huán)境下長時間穩(wěn)定運行。此外,溫升測試還可以用來驗證connector的設計和材料的選擇上是否符合相關的溫度要求與標準。
百佳泰透過Power supply和E-load來穩(wěn)定輸出測試電流給connector,并使用DAQ實時記錄connector的溫升狀況,結合以上儀器來快速達到仿真connector充電的使用情境,確保其在使用過程中的溫度變化符合USB協(xié)會的規(guī)定。
為方便大家進一步了解,接下來我們列舉兩個USB認證Fail的例子如下:,
Connector的LLCR值若小于30?,對于溫升測試上比較能達到USB協(xié)會所規(guī)定△30℃(溫升值減去室溫_23~25℃之間)。由于阻抗過高會增加消耗的功耗,進而促進溫度的提升。
測試治具Layout線不可太細。這是因為太細的Layout線會因為阻抗關系使得溫度提升,下圖以USB協(xié)會所規(guī)定Layout線尺寸和實際樣品Layout線太細為例。
憑借其業(yè)界領先的高頻高速量測能力以及累積超過30年的項目經驗,百佳泰作為USB協(xié)會官方授權的認證測試實驗室,持續(xù)為USB與線纜連接器相關的產品客戶帶來全方位的客制化技術支持。不論身處在哪種產品階段,百佳泰都能協(xié)助客戶提升產品質量、優(yōu)化生產效率,提供更快速、更便利,同時更加完善的整合咨詢服務與解決方案。
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