在上一篇文章，百佳泰歸納高頻連接器設(shè)計對機構(gòu)工程師的挑戰(zhàn)及潛在風險，高頻的特性在傳統(tǒng)低速連接器設(shè)計時是不用考慮太多，但在高速連接器的設(shè)計上卻是影響質(zhì)量的關(guān)鍵因素。偏偏高頻特性非常的復雜，而機構(gòu)工程師對于高頻特性的認知又還未累積足夠的經(jīng)驗，因此在設(shè)計及驗證高頻連接器時所花的時間都非常的久，而當驗證結(jié)果出現(xiàn)Fail時的分析也無法有效率的找出問題點去修正。

輕松破解！高頻特性之潛在風險一次看

百佳泰擁有完整的環(huán)境設(shè)備及豐富的項目經(jīng)驗，分析及歸納出當高頻特性不良時，可能引起的潛在風險：

1. Insertion Loss

Insertion Loss過大時會導致訊號衰減加劇，進而影響傳輸距離及帶寬。

2. Return Loss

Return Loss過大時會導致訊號的反射及干擾，進而影響訊號的質(zhì)量。

上述的潛在風險可能導致數(shù)據(jù)降頻傳輸、誤碼率過高，進而使整臺服務(wù)器效能降低。

當Insertion Loss 或是Return Loss驗證總是差一點而無法Pass，此時工程師最大的挑戰(zhàn)便是該怎么改善？或許會想去藉由觀察TDR，希望能解開一些疑問。但棘手的是TDR又符合規(guī)范，此時又該怎么去著手修正？ 百佳泰累積了豐富的客戶產(chǎn)品項目經(jīng)驗，因應上述的風險，提出以下例子來說明可以改善的思考方向。

實測實例秀給你看！

圖一為USB 4.0 connector mating的TDR實測實例，依據(jù)USB 4.0的規(guī)范阻抗上下限為85 ? ± 9 40 ps （20% – 80%） rise time。從圖中很明顯的可以看出TDR實測是符合規(guī)范的，而USB 4.0 的IRL測項卻過不了。對于百佳泰的量測工程師，這樣的TDR曲線其實是有空間改善的，因為反射次數(shù)的多寡往往也能決定S參數(shù)的好壞。由此實例可以看出雖然TDR結(jié)果是符合規(guī)范的，但可能由于connector的接觸阻抗過高而有多次的反射，因此，解決多次反射的問題或許就能同時解決IRL測不過的困擾。

（圖一）

Faster, Easier, Better！值得您信賴的高頻連接器檢測技術(shù)顧問

百佳泰熟悉各種產(chǎn)業(yè)高頻連接器的規(guī)格、擁有豐富的客戶產(chǎn)品項目經(jīng)驗，同時也是眾多協(xié)會的認證實驗室，具有下面的幾項優(yōu)勢：

Faster

百佳泰不僅擁有超過30年以上的專業(yè)實績、專業(yè)的技術(shù)團隊以及一應俱全的測試環(huán)境與儀器設(shè)備，能提供快速且正確的量測結(jié)果。

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能提供一站式的治具設(shè)計及產(chǎn)品量測服務(wù)，與客戶一同為產(chǎn)品質(zhì)量進行嚴格把關(guān)。

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百佳泰累積多年的豐富項目經(jīng)驗及能力，有充足的量測經(jīng)驗來解讀儀器的曲線含義，幫助客戶解決細節(jié)問題。

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